Logo SEE 512x512
Pour télécharger cet article :

Abonnez-vous

Processus de mesure pour la caractérisation expérimentale large bande de fréquences de l’état de santé d’un composant

Voir tous les articles de la revue

REE 2024-1
L’article présente une méthode non destructive de caractérisation de l’état de santé d’un des composant d’un module de puissance. Cette méthode repose sur l’analyse des interactions électromagnétiques sur une large bande de fréquences. Elle est appliquée avant et après chaque cycle de vieillissement d’un composant sous test. Une première détection de défaillance et son analyse sont détaillées afin d’identifier précisément les origines de cette défaillance. Cette identification de défaillance est validée au moyen de simulations électriques. Une amélioration du processus de mesure est décrite. Les résultats des nouvelles expérimentations menées incluant l’évolution du processus sont présentés afin de valider les améliorations attendues.

Société de l’Electricité, de l’Electronique et des Technologies de l’Information et de la Communication

17 rue de l’Amiral Hamelin  75116 Paris

Métro : « Boissière » Ligne 6 et « Iéna » Ligne 9

Téléphone : (+33) 1 56 90 37 17

N° de SIREN : 785 393 232, Code APE : 9412Z TVA intra-communautaire : FR44 785 393 232
×
×

Panier