Fiabilité des composants GaN de puissance en environnement radiatif

Les composants GaN de puissance peuvent subir des défaillances destructives induites par les particules présentes dans l’environnement radiatif spatial et atmosphérique. Afin de contribuer à répondre à cette problématique industrielle, nous avons exploré de nouvelles méthodes de caractérisation de la fiabilité des composants GaN sous radiations.