DOSSIER – Compatibilité électromagnétique (CEM)

À l'heure où nos vies sont de plus en plus dépendantes de l’électricité, de l’électronique et des technologies numériques, le terme de compatibilité électromagnétique (CEM) n’a jamais été aussi pertinent. Si son apparition remonte aux années 1920, lors des premiers balbutiements de la radiocommunication, son rôle n’a cessé de croître à mesure que la société moderne devenait plus interconnectée, dépendante des technologies et vulnérable aux perturbations électromagnétiques. François Costa, à travers deux articles, nous invite à une réflexion sur l’histoire, les enjeux actuels et la complexité croissante de cette discipline. François Costa délimite trois axes essentiels d’étude : les sources de perturbation, les modes de propagation, et les effets des perturbations sur les "victimes". Dans son second article, il se concentre sur les défis associés aux convertisseurs statiques, dont l'augmentation des fréquences de commutation (notamment avec l'émergence des composants SiC et GaN) créent de nouvelles sources de perturbations. La transition énergétique décarbonée, qui place l’électronique de puissance au centre de ses préoccupations, ajoute une couche supplémentaire de complexité. Les voitures électriques, les systèmes de chauffage intelligents ou l’aviation à faible émission deviennent tous des cibles potentielles des perturbations électromagnétiques.

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SOMMAIRE – 3EI 2025-116

Pour ce numéro d’été, nous vous proposons deux thèmes : la CEM et les processeurs RISC-V. D’une part, la CEM est au cœur des défis technologiques contemporains, qu'il s'agisse de la sécurité des dispositifs aéronautiques, de l'intégrité des télécommunications, ou de la confidentialité des données numériques. D’autre part, dans un monde où la dépendance à la technologie ne cesse de croître, maîtriser des architectures ouvertes et modulables pourrait bien être l'une des clés pour former la prochaine génération d’ingénieurs, capable d’innover tout en répondant aux défis complexes du futur. Les deux articles du thème « RISC-V » nous permettent d’appréhender le potentiel de cette architecture Open-source pour nos formations et applications industrielles.

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EDITORIAL – 3EI 2025-116

Pour ce numéro d’été, nous vous proposons deux thèmes : la CEM et les processeurs RISC-V. D’une part, la CEM est au cœur des défis technologiques contemporains, qu'il s'agisse de la sécurité des dispositifs aéronautiques, de l'intégrité des télécommunications, ou de la confidentialité des données numériques. D’autre part, dans un monde où la dépendance à la technologie ne cesse de croître, maîtriser des architectures ouvertes et modulables pourrait bien être l'une des clés pour former la prochaine génération d’ingénieurs, capable d’innover tout en répondant aux défis complexes du futur. Les deux articles du thème « RISC-V » nous permettent d’appréhender le potentiel de cette architecture Open-source pour nos formations et applications industrielles.

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3EI 2025-116

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  • Publication publiée :28 juillet 2025
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Dans ce numéro du second trimestre 2025, nous vous proposons d’explorer cet univers à la croisée des capteurs et du traitement informatique des données. Un domaine passionnant, riche en innovations, dont nous pourrons, espérons-le, tirer le meilleur pour nos projets à venir ! Hors thème, ce numéro propose de découvrir la technologie Ultra Wide Band (UWB) et un entretien avec la société Always Wireless, sur les sous-ensembles pour les communications radio sans fil et autres réalisations. Nous vous souhaitons une lecture inspirante et attendons vos contributions pour nos prochains numéros sur la compatibilité électromagnétique (CEM), la robotique et RISC-V.

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